YAMABUN山文电气台式离线光学膜测厚仪TOF-S

YAMABUN山文电气台式离线光学膜测厚仪TOF-S

检测材料：电子·光学用透明平滑薄膜、多层薄膜，光学膜

YAMABUN山文电气台式离线光学膜厚度测厚仪

实现高测量重复性（±0.01μm以下，根据对象物及测量条件）

不易受温度变化的影响

研究·检查用的离线类型、制造工序中使用的在线类型都可以制作

因为是反射型，所以可以从薄膜一侧进行测定

只能测定透明涂布膜层（根据测量条件）

光学膜测厚仪的主要作用如下：

测量薄膜厚度：光学膜测厚仪能够直接检测出物体透明或者半透明涂层的厚度1。

非接触式测量：因为是利用光的方式，所以是非接触式，非破坏式，不会影响实验样品5。

快速准确：测量迅速正确，且不必为测量而破坏或加工实验样品5。

多层膜测量：可测量3层以内的多层膜5。

适用性强：根据用途可自由选择手动型或自动型。产品款式多样，而且也可以根据顾客的要求设计产品5。

适用场景广泛：光学膜测厚仪适用于大学、研究室等场所5。

综上所述，光学膜测厚仪在工业生产和科学研究中发挥着重要作用。随着技术的不断进步和应用领域的拓展，光学膜测厚仪将继续发挥重要作用，推动相关领域的发展和创新。

光学膜涂布、太阳能晶圆、超薄玻璃、胶带、光阻等测量。应用在涂胶工序时，该设备可放置于涂胶池后、烘箱前，在线测量涂胶的厚度；也可以在线测量离型膜涂布的厚度。应用甚广，尤其适合厚度要求达到纳米级的透明多层物体的厚度测量。