SHIBASOKU芝测TRT-1000过渡热测试系统 TRT-1000，MOS-fet，晶体管等过渡热抵抗（θJC）PNjunction的顺序电压温度变化成正比特性利用ΔVF测定，规定值相比，判定分类的检测

SHIBASOKU芝测ILT-1000L负荷测试系统SHIBASOKU ILT-1000，MOS-fet的L负荷的断开时的波形进行观测，设定的VGATE，IH，白细胞介素组成的Vsus区域的保证GO/NO判定检测。

SHIBASOKU芝测SETS-400DCテストシステム系统测试仪 接力动作3mS高速动作，实现测试时间缩短 zui大的4台多测试可以在1台PC控制可能 生产记录备份功能搭载

SHIBASOKU芝测离散测试系统SETS-200DC生产记录备份功能搭载 接力动作一mS高速动作，实现测试时间缩短 zui大的4台多测试可以在1台PC控制可能

SHIBASOKU芝测SCV66MX测试仪车载传感器车载用调节器 1台的系统可以zui大的4个舞台的非同步测量可能。本体部分非常紧凑，连接机器的zui近连接。在主机内部设置应用程序区域，降低了连接本体连接的电缆。

SHIBASOKU芝测WL25MV多用测试系统高精度测试系统 8万台（AC/DC/DC）） 数据集中管理、控制（多产品Window） 稳定生产环境提供 过电流保护功能，动态特性试验中的设备破坏

多测试系统SHIBASOKU芝测WL15VWI高耐压泄漏测试 民用设备，音响，运算放大器DC-DC， 电池管理IC等 SCV系列，多样的顾客的需求的构成，提供高性能紧凑的模拟IC测试系统。 作工

SCV66汽车搭载测试系统SHIBASOKU芝测 作工 同时测量16个 模拟机:32通道（64V/320毫安） 时间测量功能

模拟IC测试系统SHIBASOKU芝测SCV8测试系统 民用设备，音响，运算放大器DC-DC， 电池管理IC等 SCV系列，多样的顾客的需求的构成，提供高性能紧凑的模拟IC测试系统。 作工

WL25V模拟IC测试系统SHIBASOKU芝测汽车搭载测试系统 WL25V国内*品牌的WL25系列范式转变引起了。WL25V的模拟销片架构更极为质朴的系统构成成为可能了。广泛涵盖的模拟IC的结构，是更加高精度，快速同时同时测量功能也充实，提供出色的成本。

半导体汽车测试系统WL25MXS芝测SHIBASOKU 式样 平行测量 模拟引脚64V/一1.28 数位引脚六十四 搭载模块 高压V/I2000V/20毫安 大电流V/I/10A，30A/30A/30A 时间，DSP（Audio/视频） 面向车载设备、电源IC、电池管理IC， 各种驱动IC等

动力混合试验系统SHIBASOKU芝测测量仪器WL25MXL 民生·车载三相电动机博士（10～50A）的AC试验机（LSW·SC考试）测试系统。高速动作可能的各种保护电路，并搭载Device和内部电路更是接触器和测定物保护。作为AC机的事的特性的优化也可能。。