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IKEIDARIKA池田理化原子力显微镜FX40

简要描述:

IKEIDARIKA池田理化原子力显微镜FX40
FX40,NX10,AFM100,AFM100 Plus

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IKEIDARIKA池田理化原子力显微镜FX40

IKEIDARIKA池田理化原子力显微镜FX40

FX40,NX10,AFM100,AFM100 Plus

自动原子力显微镜FX40可自动执行传统手动执行的探针交换、光束对准、样品位置调整等。作为用于研究的紧凑型原子力显微镜,它可以轻松获取高精度数据,同时保持过去的基本设计元素。

特征:自动完成扫描开始前的所有工作有史以来第一台用于研究的双摄像头原子力显微镜支持多种测量模式和选项样品:最多 4 个。

研究型原子力显微镜NX10配备独立的 XY/Z 轴扫描仪,可以获得精确的表面形状,而不会出现水平失真。True non-contact mode,非接触,不损伤样品表面,实现高重复性,无需消耗吸头。

特征:

纳米级表面测量低噪声 Z 检测器的精确形貌图像

True Non-Contact Mode测量,非接触意味着没有样品损坏和最长的寿命

易于使用的用户界面,SmartScan提供一键式芯片更换和简单操作

紧凑型探针显微镜AFM100 系列AFM100/100 Plus特征:

Autopilot 功能可实现"一键式"测量到分析

高级模式(SIS模式)和测量参数自动调整功能(Real Tune II)提高数据可靠性

SÆMic(AFM-SEM 相关显微镜)兼容,可进行多方面分析


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