IKEIDARIKA池田理化膜厚仪OPTM-A1OPTM-A1,Opt-scope,Auto SE,VS1800,Smartproof 5
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IKEIDARIKA池田理化膜厚仪OPTM-A1
IKEIDARIKA池田理化膜厚仪OPTM-A1
OPTM-A1,Opt-scope,Auto SE,VS1800,Smartproof 5
显微分光膜厚仪OPTM系列特征:
薄膜厚度测量所需的功能集成在测量头中。
使用显微光谱法进行高精度绝对反射率测量。
每1秒以内的高速测量。
实现显微镜下宽测量波长范围的光学系统。
区域传感器安全机制。
一个简单的分析向导，即使是初次使用的用户也可以进行光学常数分析。
配备可自定义测量顺序的宏功能。
支持各种自定义。
Opt-scope是一种白光干涉显微镜(非接触式三维表面粗糙度/形状测量仪),能够在所有镜头放大倍率下以0.01nm的高分辨率进行高速测量。从窄范围内的精细粗糙度测量到宽范围内的起伏形状测量,可以在广泛的测量条件下进行亚纳米级表面纹理测量。带有可选电动XY载物台的拼接功能可实现更宽范围的测量。
自动薄膜测量装置Auto SE特征:
非接触式无损测量,不会损坏样品；
可在1nm至15μm范围内评估膜厚；
还可以评估材料的光学常数(折射率 n、消光系数k)；
也可以评估单层和多层结构；
支持小至100μm见方的微小区域的测量；
标配电动XYZ载物台,支持面内分布测量；
实现样品表面状况和测量位置的可视化。
线扫描膜厚测试仪TI系列特征:
采用线扫描方式实现无"遗漏"的全面薄膜检测
膜厚测量范围:0.7～300μm；
10ms获取500mm宽度1mm间隔数据；
作为薄膜厚度测量专业制造商的全面支持；
可进行高速高精度测量；
使用抗抖动的光学系统；
可处理宽样品(可测量TD方向最长10m)；
硬件和软件的原创设计。
VS1800纳米三维光学干涉测量系统利用光干涉现象测量微小的表面轮廓，实现高性能薄膜、半导体、汽车零部件和显示器行业所需的高精度测量。此外，还可以非破坏性地测量多层薄膜的层结构和层内的异物。
工业广角共聚焦显微镜Smartproof 5通过采用圆盘共聚焦技术，与传统激光显微镜相比，它在保持高分辨率的同时实现了压倒性的高速成像。高清4兆像素摄像头以50fps的高速平面内扫描捕获2048x2048像素。
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