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NRI-100红外光谱折射率计分光计器仪器

简要描述:

NRI-100红外光谱折射率计分光计器仪器
NRI-100红外光谱折射率计
NRI-200色散红外光谱评估系统
OD-10高浓度测定用分光光度计
ART-25光学元件测量装置
台式真空紫外光度计

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NRI-100红外光谱折射率计分光计器仪器

NRI-100红外光谱折射率计分光计器仪器

 

NRI-100红外光谱折射率计

NRI-200色散红外光谱评估系统

OD-10高浓度测定用分光光度计

ART-25光学元件测量装置

台式真空紫外光度计

 

NRI-100红外光谱折射率计

NRI-200色散红外光谱评估系统

OD-10高浓度测定用分光光度计

ART-25光学元件测量装置

台式真空紫外光度计

 

PRS-1受光元件响应速度测量装置

是测量光传感器等受光元件的响应速度的装置。这是表示生成的载波能多快取出外部电路的值,以上升时间/下降时间表示。

下降时间是脉冲输入光的最大值10%→90%上升时间,上升时间是脉冲输入光的最大值90%→10%下降时间。装置主要由脉冲LD、样品室、DC电源、示波器、控制PC构成,通过安装在控制PC上的软件对各部分进行控制及测定。

 

LBC-2激光诱导电流测量装置

本装置是各种太阳能电池和光电转换元件(SiPDCCDCMOS)的光电流分布测定装置。

采用LBICLaser Beam Induced目前态】的测定方法。

搭载标准波长520nm激光器,将样品移动到XY,测量短路电流(Isc)。空间分辨率约为10达到m

最多50×可以测量50mm的样品。

特别是由钙钛矿太阳能电池等旋转镀膜法制作的太阳电池,在样品面的中心和端部存在均匀性不同的问题,适合评价这样的样品。另外,在SiPDCCDCMOS等领域,也适用于涂层材料等的均匀性评价。

 

BIP-FETS FET测量装置

是评价场效应晶体管特性的装置。从2个源极向样品施加源极(VS-漏极(VD)间电压、源极(VS-门(VG)电压。

可以测量漏极电流,进行ID–VSD特性测量和IDVSG特性测量。根据测量的数据,可以算出移动度和阈值电压。

另外,还计算漏极电流的接通断开比。

规格:

待测样品 FET(接触头等)

施加电压控制 源极-漏极间电压、源极-栅极间电压

施加电压范围 0±200V

最小施加电压 ±10µV

施加电压间隔 0.01/0.02/0.05/0.1/0.2/0.5/1/2/5/10V

 

 

 

 

 

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