MK-300成像光谱仪BUNKOUKEIKI分光计器用途采用新设计光学系统的正式聚氯乙烯。CCD检测受光面全域空间分辨率优异。使用支管光纤等进行多点同时光谱测量,以及通过与显微镜连接进行光谱测量等。MK-300成像光谱仪EMDP-100埃壳光谱系统CLP-400透镜光谱仪CLP-50显微镜连接用成像光谱仪CLP-105 UV紫外线成像光谱仪MCC-135多波长同时测量相机
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MK-300成像光谱仪BUNKOUKEIKI分光计器用途
MK-300成像光谱仪BUNKOUKEIKI分光计器用途
MK-300成像光谱仪
采用新设计光学系统的正式聚氯乙烯。
CCD检测受光面全域空间分辨率优异。使用支管光纤等进行多点同时光谱测量,以及通过与显微镜连接进行光谱测量等。
衍射光栅最多可以搭载3张,搭载了电气控制器,可以用USB电缆连接PC,用附带的专用软件进行波长驱动和衍射光栅切换。
特点:
将散光减少到极限,大幅改善波长两端产生的分辨率降低
最多可以安装3个衍射光栅
多点同时光谱测量
观测图像的光谱测量
检测器的切换类型也有阵容。
规格:
反线型方差 2.58nm/mm
光学系统 像差校正型特殊光学系统
亮度 F=4.4
波长分辨率 半幅0.2nm(3pixels以内)
迷光 5×10-3以下
波长准确度 ±0.2nm(3pixels以内)
波长再现性 ±0.2nm(3pixels以内)
衍射光栅切换再现性 ±0.2nm(3pixels以内)
光学波长范围 200~1000nm
波长移动方式 正弦机构、波长线性移动
波长驱动方式 步进马达驱动(PC・专用软件控制)
衍射光栅 时刻线有效50×50mm
衍射光栅切换方式 步进马达驱动(最多可搭载3张)
入射狭缝 宽度:0.01~4mm(双开对称连续可变・读取最小刻度0.01mm)
手动快门(可选择自动快门)
软件 衍射光栅切换·波长移动(USB连接)
*CCD检测器受光尺寸26.6mm(1024×256pixels 26µm/pixels)的情况
EMDP-100光谱系统
这是一种通过Retroller色散棱镜和E壳衍射光栅的交叉分散双光谱配置,能够以高分辨率同时测量广波长范围的系统。搭载ANDOR制ICCD检测器,可以使用分光仪表专用软件Blux进行控制。
通过结合各种测量用光学系统,可以对应等离子体光谱、PL和LIBS等所有测量。
特点:
一台E壳光谱系统实现了波长范围200~900nm的测量。
通过选择Retroller色散棱镜,可以从P1(200~270nm)、P2(270~410nm)、P3(410~900nm)3种测量波长范围中选择。
测量分辨率在整个区域8500(λ/△λ)达到以上。
在专用软件Blux中,可以进行从ICCD检测器测量的数据读取到光谱显示的数据处理(波长、顺序连接、等间隔校正等)。
规格:
光学布置 交叉色散双光谱仪
测量波长范围【3波长范围】 200~900nm【200~270nm(P1)・270~410nm(P2)・410~900nm(P3)】
测量分辨率 8500以上(狭缝宽度50μm)
半光谱宽度 0.02~0.1nm(200~900nm)
焦距 波长色散用330mm阶数分离用200mm
开口比 F=10
波长色散 埃壳衍射光栅
次方差 利特勒分散棱镜
入射端口 带XY调整功能的光纤支架
ICCD元件数 W2048×H512 pixel(有效1800×512pixel)
ICCD元件尺寸 13.5×13.5μm
ICCD区域大小 W27.648mm×H6.912mm(有效W24.975mm×H6.912mm)
MK-300成像光谱仪
EMDP-100埃壳光谱系统
CLP-400透镜光谱仪
CLP-50显微镜连接用成像光谱仪
CLP-105 UV紫外线成像光谱仪
MCC-135多波长同时测量相机
重氢光源30W
卤素灯电源
Xseries氙灯光源(通常)
XERseries氙灯光源(反射器)
Nseries陶瓷加热器光源(红外光源)